1、絕緣高溫壓力試驗(yàn)  
1.1取樣  
對每個被試絕緣線芯，從每個長度為250～500mm樣段上截取3個相鄰的試樣。試樣長度應(yīng)為50-100mm。  
無護(hù)套的扁平軟線的絕緣芯不應(yīng)分開。  
1.2試樣制備  
用機(jī)械方法除去試樣上的所有的護(hù)層，包括半導(dǎo)體電層（若有的話）。根據(jù)電纜的類型，試樣可以是圓形或扇形截面。  
1.3試樣的放置  
壓痕裝置如圖1所示，由刀口厚度為（0.70±0.01mm）的矩形刀片組成,刀片可對試樣加壓.每個試樣放置在如圖1所示的位置上。無護(hù)套扁平軟線應(yīng)以扁平邊放置。小直徑試樣在支撐板上的固定方式不應(yīng)使試樣在刀片壓力下發(fā)生彎曲。扇形試樣應(yīng)放置在如圖1所示的帶扇形凹槽的支撐板上，沿垂直于試樣軸線的方向施加壓力，刀片也應(yīng)與試樣軸線垂直。  
1.4計(jì)算壓力  
刀片作用于試樣（圓形和扇形絕緣線芯）上的壓力F，以N為單位，應(yīng)按下式計(jì)算：  
F=k2Dδ-δ2  
式中：  
K---有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的系數(shù)。如沒有規(guī)定，則應(yīng)為：  
軟線和軟電纜的絕緣線芯，K=0.6  
D≤15mm的固定敷設(shè)用電纜絕緣線芯，K=0.6  
D＞15mm的固定敷設(shè)用電纜絕緣線芯及扇形絕緣線芯，K=0.7  
δ---絕緣試樣厚度的平均值；  
D---試樣外徑的平均值。  
δ和均以mm計(jì),到小數(shù)點(diǎn)后一位。按GB/T2951.11-2008規(guī)定的試驗(yàn)方法,在試樣端頭切取的薄片上測得。  
對于扇形線芯,D為扇形“背部”或圓弧部分直徑的平均值，用測量帶在電纜纜芯上測量三次后取平均值，以mm計(jì)，到小數(shù)點(diǎn)后一位（測量應(yīng)在纜芯上三個不同地方進(jìn)行）。  
作用于無護(hù)套扁平軟線試樣上的壓力應(yīng)是按上述公式計(jì)算所得的值的兩倍，其中D為1.1所述試樣短軸尺寸的平均值。  
壓力F的計(jì)算值可以向較小值化整，但舍去的值應(yīng)不超過3%。  
1.5試樣加熱  
試驗(yàn)應(yīng)在空氣烘箱中進(jìn)行，試驗(yàn)設(shè)備和試樣放在烘箱中不應(yīng)振動；或者放在有防振支架的空氣烘箱中進(jìn)行。任何可能引起試樣振動的設(shè)備諸如鼓風(fēng)機(jī)等，不允許直接與烘箱接觸。  
烘箱中空氣溫度應(yīng)一直保持在有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的溫度。  
未預(yù)熱的受壓試樣在烘箱中放置的時間按有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，如電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)沒有規(guī)定，則按如下規(guī)定：  
---試樣外徑D≤15mm時為4h;  
---試樣外徑D＞15mm時為6h。  
1.6試樣冷卻  
規(guī)定的加熱時間結(jié)束后（見1.5試樣加熱），試樣在烘箱中，在壓力作用下應(yīng)訊速冷卻，可用冷水噴射壓在刀口下的式樣來冷卻。絕緣試樣冷卻至室溫并不再繼續(xù)變形后，從試驗(yàn)裝置中取出，然后浸入冷水中進(jìn)一步冷卻。  
1.7壓痕測量：  
試樣冷卻后立即測量壓痕深度。  
應(yīng)抽出導(dǎo)體留下管狀絕緣試樣。  
應(yīng)沿著試樣的軸線方向，垂直于壓痕從試樣上切取一窄條試片，如圖2所示。  
將窄條試片平放在讀數(shù)顯微鏡或測量投影儀下，并將十字線調(diào)到壓痕底部和試片外測（如圖2示）  
外徑約6mm及以下的小試樣應(yīng)在壓痕處和壓痕附近橫向切取兩個試片（如圖3示）。壓痕深度應(yīng)是剖面圖1和剖面圖2在顯微鏡下的測量值之差（如圖3所示）  
全部測量值均以mm計(jì)，到小數(shù)點(diǎn)后兩位。  
1.8試驗(yàn)結(jié)果的評定：  
從每個試樣上切取的三個試片上測得壓痕中間值，應(yīng)不大于試樣絕緣厚度（按1.4測量）平均值的50%。  
（注：所定的50%這個值與公式的基本原則有關(guān)，并且對所有材料都是一樣的。試驗(yàn)嚴(yán)格程度僅隨系數(shù)K的變化而變化，但50%這個值不變）。
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